Dịch vụ phân tích nguyên nhân hỏng hóc pin giúp bạn hiểu rõ nguyên nhân, đồng thời đưa ra các khuyến nghị nhằm ngăn ngừa sự cố tái diễn trong tương lai, dù nguyên nhân xuất phát từ lỗi hỏng hóc hay hiệu suất pin không đạt kỳ vọng.
Pin và các nguồn năng lượng có tuổi thọ cao ngày càng đóng vai trò quan trọng trong nhiều ngành công nghiệp. Để cải thiện hiệu suất và ngăn ngừa hỏng hóc, việc hiểu rõ các cơ chế suy giảm là điều cần thiết.
Việc phân biệt các nguyên nhân tiềm ẩn gây ra sự cố có thể rất khó khăn, đặc biệt khi sản phẩm hoặc hệ thống đã bị hư hại nghiêm trọng. Quá trình này đòi hỏi sự am hiểu sâu rộng về các thành phần tham gia phản ứng điện hóa bên trong cell pin, cũng như các điều kiện ràng buộc do ứng dụng và môi trường vận hành tạo ra. Một cuộc điều tra toàn diện là rất cần thiết để xác định xem lỗi phát sinh do tác động bên ngoài hay khuyết tật nội tại.
Intertek đã xây dựng quy trình phân tích nguyên nhân hỏng hóc bài bản và có hệ thống. Phương pháp của chúng tôi kết hợp cả kỹ thuật không phá hủy lẫn tháo rời phân tích để đưa ra góc nhìn toàn diện về nguyên nhân hỏng hóc. Quy trình đa ngành này cho phép đội ngũ chuyên gia xác định và phân loại các vấn đề phát sinh từ thiết kế, quy trình sản xuất, điều kiện lưu trữ và vận hành pin.
Chúng tôi sẽ cung cấp kết quả điều tra kèm các khuyến nghị về biện pháp khắc phục phù hợp nhằm ngăn ngừa sự cố lặp lại và kéo dài tuổi thọ pin.
Các kỹ thuật phân tích nguyên nhân hỏng hóc pin gồm có:
- Kiểm tra dung lượng pin
- Phân tích trở kháng điện hóa (Electrochemical Impedance Spectroscopy)
- Phân tích Voltammetry
- Tháo rời cell/bộ pin để kiểm tra
- Chụp ảnh nhiệt (Thermography)
- Phân tích cấu trúc kim loại (Metallography)
- Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
- Phân tích phổ tia X phân tán năng lượng (EDX/EDS)
- Chụp cắt lớp vi tính (CT Scan)
- Phân tích nhiệt vi sai (Differential Scanning Calorimetry - DSC)
- Phân tích hồng ngoại biến đổi Fourier (FTIR)
- Cộng hưởng từ hạt nhân (NMR)
- Thử nghiệm bằng tia X